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测厚仪的测试原理和使用注意事项

发布时间:2022-12-20浏览:145次

   测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片等硬质和软质材料厚度准确测量,分辨率达0.1um,广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。

  测试原理
  测厚仪采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。
  测厚仪的使用方法:
  测量的时分,首先将准备步骤做好,像是探头的刺进链接和机器的开关,在开机后,屏幕上已经显示出了前次关机前的信息的时分,就代表可以开端操作了。
  然后是关于声速的调整,声速的调整是有必要的,按住VEL键,就可以对声速进行调整,有上下符号的按键可以辅助调整。
  调整好声速今后要开端校准,校准是很有必要的,不管是在更换电池还是探头之后,都应该对机器进行校准,校准做不好会影响测量的数据。
  Z后,进行测量,将探头与被测材料耦合就可以主动的进行测量了,屏幕上会显示出详细的测量数据信息。
  测厚仪的使用注意事项:
  1、在进行测验的时分要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件类似。
  2、在测量的时分要注意,侧头与试样表面坚持垂直。
  3、在进行测验的时分要注意基体金属的临界厚度,假如大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  4、在测量的时分要注意试件的曲率对测量的影响。因而在曲折的试件表面上测量时不可靠的。
  5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会发生磁场,假如会将会搅扰磁性测厚法。
  6、测量时要注意不要在内转角处和接近试件边缘处测量,由于一般的测厚仪试件表面形状的遽然变化很灵敏。
  7、在测量时要坚持压力的稳定,否则会影响测量的读数。
  8、在进行测验的时分要注意仪器测头和被测验件的要直接接触,因而超声波测厚仪在进行对侧头铲除附着物质。
 
 
 

 

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